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5120A和5125A相位噪聲及艾倫方差測試儀

產品概述:

       Microsemi公司的5120A/5125A系列相位噪聲及艾倫偏差(ADEV)測試儀,采用超低噪底,準確、高速的數模轉化器,無需外部校準。全數字一體化設計,一次按鍵便可開始測量,幾秒鐘后測試數據便出現在高分辨率顯示屏上。
    5120A/5125A采用了創新的互相關技術,交叉關聯雙通道的離散傅里葉變換,抵消了系統本身的噪聲,更好的估算輸入信號的噪聲,從而獲得更精確的測量結果。
    5120A可選擇增添內部振蕩器選項(-01選項),無需外部參考源,獨立完成測量。5125A將測量頻率范圍擴展到400MHz,應對更廣泛的測試、測量需求。

主要特征:

詳情里小圖標.png   相位噪聲和艾倫方差同時測量
詳情里小圖標.png   頻率范圍:5120A:1-30MHz,5125A:1-400MHz
詳情里小圖標.png   支持被測信號和參考源使用不同的頻率值
詳情里小圖標.png   無需校準,一鍵開始,幾秒鐘后實時顯示數據
詳情里小圖標.png   艾倫方差測量超過300天
詳情里小圖標.png   相位噪聲測量接近0.1mHz
詳情里小圖標.png   實時顯示內部噪聲
詳情里小圖標.png   通過網口遠程管理和數據采集

技術規格:

  詳情截圖-5120A和5125A相位噪聲及艾倫方差測試儀.jpg

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